王子计测超高位相差測定装置

产品介绍

王子计测超高位相差測定装置

PAM-UHR100

特点

① 1nm宽测量范围

② 高重复精度±1nm

③ 良好的可操作性

④ 软件

测定对象：

位相差薄膜，塑料，偏振片

光盘

液晶组件

磁带用胶片

收缩薄膜

其他一般用途胶片

用途：

光学功能胶片的研究开发，质量管理

延伸胶片的定向评价(三维折射率，表面定向度)

包装膜的热收缩、撕脱性等的评价

液晶元件的双绞线波长色散特性评估

光学器件的透射椭圆偏振光的评价

王子计测PAM-UHR100超高位相差測定装置

技术参数

仕様	内容
測定対象	透明な延伸フィルム（ＰＣ，ＰＥＴ等）
測定項目	位相差、配向角、複屈折（位相差範囲約８００～２００００ｎｍ）
試料寸法	□４０ｍｍ厚み３ｍｍ以下
システム構成	測定装置本体、ノートパソコン（OS：Windows 7 / Vista / XP）
温湿度条件	10～35℃、20～80％ＲＨ（ただし結露しないこと）
電源	AC100V±10％、50／60Hz